日本理学（Rigaku）DualSource RAPID II X射线衍射（XRD）分析仪

最新RAPID II家庭成员,包含一个Cu微焦点密封管和一个Mo标准密封管的双放射源配置。晶体学家基于其优越性能选择该组合:一个微焦点的铜管结合一个多层膜反射镜性能优于标准的铜密封管系统。一个标准钼密封管机和一个弯曲石墨单色器性能优于一个微焦点钼放射源和多层膜光学器件。因此DualSource RAPID II提供给我们世界最好的波长可变系统。

大口径的优势

RAPID II的口径非常大,204°水平方向的捕捉角度说明在曝光期间从晶体收集到更多的衍射。这将减少必须收集并一起缩放的图像数。由于在相同图像中测量了更多的等效反射因此缩放更加精确。

低噪音的优势

大口径和低点遭噪声意味着即使是需要长时间曝光的小样品,也可以轻松测量粉末衍射和漫散射。

简易的优势

RAPID II设计简洁,易于使用,因此即使让学生或初学用户收集数据也无需担心。1⁄4 Χ测角仪是用于覆盖倒易空间的简便方法,2θ机械手臂的缺乏说明调节简单。RAPID II是一个高可靠性设备,如果有需要可以在现场进行修复。相比之下电子探测器必须返回原厂修理。

DualSource RAPID II X射线衍射（XRD）分析仪特点

单晶的标准三维结构测定

手征化合物的绝对结构测定

完整高分辨率数据用于电荷密度建模

极小晶体的结构测定

漫散射图谱采用长X射线曝光时间

使用钻石对顶砧高压测定

超分子结构(次显微组织,常含有大单胞)

双晶和调制晶体的完全处理

粉末样品的物相ID

纤维衍射图谱

生物大分子的结构测定