日本理学（Rigaku）UltimaⅣ X射线衍射（XRD）分析仪

UltimaⅣ代表了最新的多功能X射线衍射(XRD)系统。为了保持其永久性安装、永久性调节以及用户可选的平行和聚焦配置,纳入了理学公司专利的交叉光束光学(CBO)技术。UltimaⅣX射线衍射仪可以快速执行很多不同的测试。

高性能的设计

多功能衍射仪的性能不仅取决于执行一个测试的速度,还包括在不同类型测试间的切换速度。个别的测试可通过例如高速一维检测器D/teX Ultra等附件进行优化,但是结合使用自动调节和CBO可从根本上改善测试速度。

灵活性的设计

UltimaⅣ是当今市场上唯一的纳入全自动调节功能的XRD系统。同时使用CBO和面内机械臂时,自动调节可以使UltimaⅣX射线衍射仪成为可以对应多功能应用程序的最大灵活性系统。

功能性的再定义

在UltimaⅣXRD系统中,CBO技术省掉了切换光学系统所需的时间,使用户每天无需重新设定系统就能运行平行和聚焦这两组实验,并且减少了由于经常切换过程带来的磨损和光学损坏。结合CBO与自动调节的最高功能用于:微晶衍射、薄膜衍射、小角散射和平面散射。

Features:

计算机控制下的全自动调节

用于面内测试的无需重新调整的面内衍射机械臂(选购)

无需重新调整的平行和聚焦光学系统

SAXS功能

高速一维检测器D/teX Ultra,位置灵敏检测器系统(选购)

UltimaⅣ X射线衍射（XRD）分析仪

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。主要特点:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料;可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。

UltimaⅣ X射线衍射（XRD）分析仪主要的应用有:

(1)粉末样品的物相定性与定量分析;

(2)计算结晶化度、晶粒大小;

(3)确定晶系、晶粒大小与畸变;

(4)Rietveld结构分析;

(5)薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度;

(6)In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构;

(7)小角散射与纳米材料粒径分布;

(8)微区样品的分析。