岛津公司MAXima_X XRD-7000 X射线衍射仪

岛津公司X射线衍射仪 XRD-7000分析方法可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精密测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等;X射线衍射分析方法是材料微观结构表征Z常规和Z有效的方法之一

岛津公司MAXima_X XRD-7000 X射线衍射仪配备具有0.0001°最小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的,可以选择适合分析大型样品的L型(最大350mmφ样品)和通用的S型。

XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪,能够测定超大型样品。

不但可进行定性/定量等基本分析,还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件,还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。

利用新开发的大型R-θ样品台,可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。

采用强大的多毛细管平行光束系统,可对应凹凸不同的样品的分析,扩大应用范围。