RAPID II可以说是材料分析历史中最通用的X射线面探测器。在十多年的不断改进期间,RAPID II的成功证明了成像板技术适用于测量衍射图谱和广泛材料的散射。 多功能性 结合极大的有效面积成像板,使其对广泛的放射源具有高灵敏度并且对各种X射线源和光学系统具有灵活性。成像板探测器的性质说明微弱测量可以在强测量中轻松进行。 成本低 结合一个可行的、经过实践考验的设计和无需校正的特点,RAPID II是一个保持在实验现场最短停机时间的探测器。 结果证明 通过运行RAPID II的实验仅受到研究者想象力的局限。示例包括粉末衍射的相ID、微衍射描绘低至10微米、漫散射、纤维衍射、小分子结构分析、应力和织构检测等。 RAPID II X射线衍射(XRD)分析仪技术参数 1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶) 2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm 范围为-60度 – +144度3. 一次收集2 4. 专用观察样品的CCD摄像头 5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um) 6. 入射端前置单色器 7. 附件齐全 RAPID II X射线衍射(XRD)分析仪主要特点: 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性 2. 薄膜样品的物相分析 3. 织构分析 4. 应力分析 5. 纤维分析 6. 高温测试 声明:本网部分文章和图片来源于网络,发布的文章仅用于材料专业知识和市场资讯的交流与分享,不用于任何商业目的。任何个人或组织若对文章版权或其内容的真实性、准确性存有疑义,请第一时间联系我们,我们将及时进行处理。 |
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