上海交通大学分析测试中心波长色散型X射线荧光光谱仪(XRF)

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仪器名称        波长色散型X射线荧光光谱仪(XRF)        
英文名称        Sequential X-ray Fluorescence Spectrometer
规格/型号        */XRF-1800
生产厂商       
国别        中国
所属单位        分析测试中心>>208        放置地点        208(208)
负责人        黎玲玲 联系电话：021-34206173-208 邮箱：linglingli@sjtu.edu.cn
胡倩倩 联系电话：021-34206173-109 邮箱：huqq12@sjtu.edu.cn
暴肖丽 联系电话：021-34206173-208 邮箱：bxlzz@sjtu.edu.cn
收费标准        基础费率：
测试项目：
全元素定性半定量分析【校内:150元 校外:300元】／样品
定量分析标准样品检测【校内:200元 校外:400元】／样品
定量分析待测样品检测【校内:150元 校外:300元】／样品
样品制备（压片法）【校内:25元 校外:50元】／样品
样品制备（熔融法）【校内:50元 校外:100元】／样品
备注【校内: 校外:】／样品
性能指标        ?        X射线管        4kW薄窗，Rh靶 ?        分光器        10晶体可交换，5种狭缝可交换，高次线轮廓功能， 超高速分析功能 ?        最大扫描速度        300°/min ?        检测元素范围        9F-92U ?        检测浓度范围        0.0001%-100% ?        局部分析功能        分析直径500μm ?        成像功能        表示直径250μm
主要应用        X射线荧光光谱仪具有非破坏性、快速、精度高、定性及定量准确等优点，是原子吸收、ICP等仪器强有力的补充。X射线荧光光谱仪广泛应用于钢铁、有色、石化、地质、玻璃、电子、纳米材料等材料的化学元素成分快速分析
样品要求        ?        样品有足够的代表性 ?        试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变形、不引起化学变化 1.        固体 ?        试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无污染 ?        尺寸要求（mm） 大小：10×10～45×45； 厚度：金属 陶瓷 1～20、塑料等有机质基体 5～20 2.        粉末 （1）压片法 ?        样品均匀、粒度>200目 ?        样品量>5g ?        样品需干燥处理 ?        压片成形性较好 （2）熔片法 ?        样品均匀、粒度>200目 ?        样品量>2g ?        硫化物、金属单质样品需特殊注明
仪器说明        主要应用： ?        可应用于物理、化学、地质地理、环保、冶金、材料等领域中的成份分析以及工矿企业质量监控 ?        能对固体、粉末、薄膜以及纳米材料中的元素进行定性定量分析 ?        多层镀膜的每层元素定性定量分析，膜厚测定 ?        样品微区分析 主要附件： ?        LiF（200），Ge，PET，TAP， SX- 88，SX-98，SX-76， LiF（220）8块分光晶体，FPC、SC检测器；微区刻度尺 ?        振动磨、压样机、熔融炉 主要特点： ?        可以实现样品的无损检测 ?        在没有标样的情况下对样品进行全元素（9F-92U）分析 ?        样品处理相对简单 ?        峰背比较高，分析灵敏度高