日本理学差示扫描量热仪DSC8231采用热流式设计原理,其结构精致而简单,操作方便,性能优越。对于质量控制和材料研究最为理想。可用于测量材料的熔点、玻璃化温度、结晶度、固化度、纯度、比热、反应动力学、热稳定性、相转变温度等参数。 日本理学差示扫描量热仪DSC8231 的主要特点 ◆炉体坚固耐用,抗腐蚀性强。 ◆DSC基线极其平稳。 ◆具有多种了冷却附件可供选择。 ◆可选配样品自动进样器。 DSC8231 的主要性能指标 ◆热量准确度 ±1% ◆热量精度 ±0.1% ◆灵敏度 0.5 μ W ◆温度范围 -150℃--725℃ ◆温度准确度 ±0.1℃ ◆温度精度 ±0.01℃ ◆扫描速率 0.016-100℃/min 自动进样器 自动进样器附件使得仪器运行时无须有人料理。他自动装入试样和启动实验。 日本理学公司 理学公司自1951年成立以来,一直站在研究分析和工业仪器技术的最前沿。当今伴随着数百个重大创新,理学公司在以下领域成为世界的领导者。其中包括一般X射线衍射(XRD),薄膜分析(XRF、XRD及XRR),X射线荧光光谱学(TXRF、EDXRF及WDXRF),小角度X射线散射(SAXS),蛋白质和小分子X射线晶体学,拉曼光谱学,X射线光学器件,半导体计量学(TXRF、XRF、XRD及XRR),实验室自动化,X射线源,计算机体层摄影,非破坏性检查以及热分析。 理学对X射线及其补充技术深层理解,我们真正的力量是与客户共同合作的意愿。 通过推进全球科学和工业领域的合作关系、对话和创新,理学经过不懈努力向客户提供完全集成的分析解决方法。 理学员工致力于开发支持大学院校、工业和政府实验室,与最终客户为中心的集成解决方案的各种不同的学科,提供广泛学科的以客户为中心的集成分析解决方法,包括结构蛋白质组学、超微工程研究、 一般用途的 x 射线衍射(XRD)和光谱学(XRF)、材料分析和品质管理。 无论为创造更好的半导体芯片提供工具,实现药物开发,改善生产线品质或探索前沿的纳米技术,理学都将提供创新的产品和服务。 理学员工总数超过1400人,分布在日本、美国、欧洲和中国。理学尊重每一名员工。理学的价值来源于所有员工。我们的客户与员工之间的亲密合作关系设定我们工作的方向和重点,使我们满足客户需求并且靠近市场 。 声明:本网部分文章和图片来源于网络,发布的文章仅用于材料专业知识和市场资讯的交流与分享,不用于任何商业目的。任何个人或组织若对文章版权或其内容的真实性、准确性存有疑义,请第一时间联系我们,我们将及时进行处理。 |
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