空间分辨率是评估X射线成像闪烁屏性能的重要标准。尽管目前各种钙钛矿基闪烁体取得了一些进展，但其分辨率仍然限制在100到500 μm的范围内，远不能和已达到亚微米级分辨率的单晶闪烁体相比。我们发现闪烁层的厚度是决定空间分辨率的关键因素。一方面，厚层将在前表面和后表面上产生两个图像，最终在电荷耦合器件（CCD）平面上重叠，导致强度扩散函数展宽，并随之降低分辨率。另一方面，薄层无法沉积足够的X射线光子，所以有限的发光通量无法提供具有高对比度的清晰图像。因此，选择适当厚度的闪烁屏是提高空间分辨率的关键。

        济南大学前沿交叉科学研究院(iAIR)张玉海教授课题组与山东大学刘宏教授课题组合作，通过利用钙钛矿纳米片的自组装行为，实现了对闪烁屏厚度的精确控制（8 ~ 50微米）。首先在室温下通过共沉淀法制备了CsPbBr3纳米片的浓缩胶体（~135 mg/mL）;通过滴注以及自组装在室温下形成了无裂纹闪烁屏，显示出高的内部和外部PL QY（分别为84.5%和75.1%）。通过改变钙钛矿胶体的浓度，制备了不同厚度的闪烁屏，并分别对铜网进行成像。
        成果简介
       1.通过小角XRD的实时测试，验证了纳米片的自组装行为，并提出了详细的自组装过程的实验模型。
       2.基于自组装CsPbBr3纳米片的X射线探测器显示高灵敏度，检测限低至27 nGy/s，比医疗诊断的常规剂量低两个数量级。使用15 μm厚的屏幕进行射线照相，从而获得高分辨率的X射线图像。
       3.作者通过增加成像镜头的数值孔径，进一步提高了分辨率，最终获得了26 μm的分辨能力。
        文章信息:Zhaofen Wang, Ruijia Sun, Nianqiao Liu, Huailin Fan, Xun Hu, Depeng Shen*, Yuhai Zhang* & Hong Liu*. X-Ray imager of 26-μm resolution achieved by perovskite assembly. Nano Research https://doi.org/10.1007/s12274-021-3808-y.