武汉大学物理科学与技术学院D8X射线衍射仪

gogoali

设备编号*03011210
分类编号  03030501
仪器中文名称*D8X射线衍射仪
仪器外文名称  D8X-ray diffraction (XRD)
仪器规格型号*D8 ADVANCE
仪器总价（元）*
生产厂商*德国Bruker AXS
产地国别*德国
生产日期  2003
启用日期*2003.10
所在单位*物理科学与技术学院
实验室名称 纳米中心
安放详细地址*物理科学与技术学院3-112
联系人*汪大海
电话  13329728937
E-mail  dhwang@whu.edu.cn
测试服务标准*校内   200 元/小时；院内100 元/小时；校外250 元/小时；
每周开放机时数*
48小时
主要技术指标*
3kw 0.5o—100o最小步进角度0.0001
配有高低温附件，高温：20℃—1600℃
真空中高温：20℃—1000℃ 低温：-150℃—600℃
主要附件及功能*
高低温附件：高温：20℃—1600℃，真空中：20℃—1000℃，
低温：-150℃—600℃。
能研究材料及对其结构的表征，应用领域：
1.材料晶体大小的测定期模拟计算。
2.半导体基底上薄膜生长的纳米材料分析。
3.纳米材料中的物相定性分析。
4.纳米氧化锌陶瓷的参杂制备及物相分析、结构表征、性能和结构分析等。
5.单相和多相的全谱拟合计算和结构精修
配有精密尤拉环：
1.在非常态下测试：配有高低温附件，温度范围从3K-3000K,温度控制精确可靠，可在空气、真空或惰性气体下测量。
2.薄膜的掠射研究：配有Goebel镜可得到高强度平行光束，能对多晶薄膜进行物相鉴定、取向分析、晶粒大小测定、薄层次序分析等。
3.薄膜的反射研究：在Goebel镜平行光束照射下，能测量薄膜厚度、密度、表面及界面粗糙度等
4.织构及应力分析的研究：可用反射法及透射法采集数据，测出完整的极图及不完整极图。
用户范围及服务项目*
面对全校及社会全面开放共享，材料的结构测试与分析
主要应用成果
1.       三大检索论文约30篇/年；其中一区论文2-3篇，核心论文：20篇/年；
2.       授权专利：1-2项/年。
3.       年开设本科综合实验6项；研究生实验1项；毕业（设计）论文6项。
4.       培训上机操作人数140余人。
5.       科研课题15项。
6.       社会服务3项。