武汉理工大学测试分析中心场发射透射电子显微镜

fengyuzhong

资产编号        20071824       
仪器名称        场发射透射电子显微镜        
状态【运行】
英文名称       
规格/型号        JEM2100F/JEM2100F
生产厂商        日本电子
国别        日本
所属单位        材料研究与测试中心>>112        放置地点       
负责人        刘小青 联系电话：13638639280 邮箱：lczr@whut.edu.cn
孙振亚 联系电话：13007121685 邮箱：sunzyunisa0121@sina.com
刘小青 联系电话：13638639280 邮箱：lczr@whut.edu.cn
罗婷婷 联系电话：13163377512 邮箱：ltt8727@qq.com
郭毅 联系电话：18086064347 邮箱：guoyi0904@163.com
邓 兆 联系电话：13035133676 邮箱：dengzhao@whut.edu.cn
单价        6700000.0000
收费标准        校外：0/小时；0/样品
校内：0/小时；0/样品
测试项目：
制样（微栅即铜网）【校内:30元 校外:35元 】/每样品
形貌分析【校内:350元 校外:740元 】/小时
形貌分析+EDS【校内:500元 校外:1060元 】/小时
性能指标        点分辨率：0.23 nm 晶格分辨率：0.102 nm 扫描透射像晶格分辨率：0.20 nm EDS X射线能量分辨率 132ev 探测元素范围：5B~92U 加速电压：200 kV 最小电子束斑：0.5 nm 放大倍数：50倍~110万倍
主要应用        主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察；物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察；纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布分析。
样品要求        样品要求为非磁性的稳定的薄膜或粉末，视其分析内容进行样品制备。