上海交通大学分析测试中心精研一体机

huangsha

仪器名称        精研一体机        
英文名称       
规格/型号        *Leica EM TXP/*EM TXP
生产厂商       
国别        德国
所属单位        分析测试中心>>120        放置地点        120(120)
负责人        丁莹 邮箱：yding16@sjtu.edu.cn
鲍中秋 邮箱：baozq@sjtu.edu.cn
洪立芝 邮箱：honglizhi@sjtu.edu.cn
收费标准        计时标准：按预约时间
基础费率：
磨抛：
平面研磨【校内:150元 校外:300元】／小时
对粘截面研磨【校内:150元 校外:300元】／小时
性能指标        工具前进步进：100μm，10μm，1μm及0.5μm可选；工具轴承转速：300~20000 rpm可调；具有自动进程倒计数，自动时间倒计时功能，具有自动应力反馈功能；样品处理过程可由蠕动泵自动泵取冷却液/研磨液；带有体视镜观察系统，LED环形照明，观察角度0°至60°可调，或者调至 -30°，则可通过目镜标尺对样品进行距离测量。
主要应用        Leica EM TXP是一款多功能机械研磨抛光机，适用于对目标定位，进行铣削，切割，冲钻，研磨，修块及抛光等。特别适合于样品微小目标的精细定位、切割加工。其主要功能为：可用于光镜观察前样品切割、机械抛光等制备；可用于扫描电镜和超薄切片机的样品前制备，对样品进行机械修块；还可用于离子减薄样品前制备，获得Φ3mm样品圆片（两面平行，厚度可达1μm量级）。
样品要求        圆柱形或不规则样品：直径≤8mm；薄片状样品：厚度≤8mm，宽度≤20mm。
仪器说明        Leica EM TXP是一款独特的可对目标区域进行精确定位的表面处理工具，特别适合于扫描电镜，透射电镜以及光镜观察之前对样品进行切割、研磨、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需要对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。借助其多功能的特点，Leica EM TXP也是一款可以为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的极高效的前制样工具。