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[材料测试] 中山大学光电材料与技术国家重点实验室表面扫描探针显微系统

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发表于 2017-6-12 08:38:53 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
仪器固定资产编号 20106351
所属机构 光电材料与技术国家重点实验室
分类号 03040155  
分类名称 扫描隧道显微镜
仪器中文名称 表面扫描探针显微系统  
仪器英文名称   
仪器别名   型号 RHK UHV750 VT
技术指标 SPM分辨率:7*7硅表面原子分辨;温度范围:30K~1000K;背景真空:<2*10^-10Torr;扫描范围:5微米;偏压:0~5V  
应用成果   
功能及特点 能够提供全部的原子力显微镜和扫描隧道显微镜成像技术,提供材料和器件在原子水平上的表面特征,给材料和器件的制备提供指导。  
可提供服务范围 提供材料和器件在原子水平上的表面特征  
对样品的要求   
主要附件 离子泵、变温样品台  
仪器检定情况 定期检定  
厂家 美国RHK公司  
厂商资质   
厂商国家或地区      
产地国家或地区      
购置年代 2009年   生产年代 2009年   
共享级别 全国共享  
知名用户   
安放地点 东校区微纳楼6楼超净室  
仪器负责人 闵继雄  
通信地址 广州市海珠区新港西路135号中山大学理工学院  
邮政编码 510275  
联系电话 020-39943415  传真 020-39943262
电子邮件 minjix3@mail.sysu.edu.cn  
启用时间 2009/10/31  


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