中山大学光电材料与技术国家重点实验室半导体参数分析系统

xiaoyou

仪器固定资产编号 2011C358  
所属机构 光电材料与技术国家重点实验室
分类号 03190442  
分类名称 半导体参数分析系统
仪器中文名称 半导体特性分析系统  
仪器英文名称   
仪器别名   型号 吉时利4200-SCS/F
技术指标 电压测量范围：1μV-200V；电压源设定最小分辨率：5μV；电压测量最小分辨率（最小测量范围下）：1μV. 电流测量范围：100fA-100mA；电流源设定最小分辨率：5pA；电流测量最小分辨率：1pA.
应用成果   
功能及特点 电流-电压测量（I-V测量）；电容-电压测量（C-V测量）。
具有很高的电流、电压分辨率.
可提供服务范围 I-V、C-V测量  
对样品的要求   
主要附件   
仪器检定情况 定期检定  
厂家 美国吉时利仪器公司  
厂商资质   
厂商国家或地区      
产地国家或地区      
购置年代 2010年   生产年代 2010年      
安放地点 南校区物理楼102室  
仪器负责人 郑跃  
通信地址 广州市海珠区新港西路135号中山大学理工学院  
邮政编码 510275  
联系电话 020-84113231  传真 020-84113231
电子邮件 zhengy35@mail.sysu.edu.cn  
启用时间 2010/6/14