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[材料测试] 中山大学分析测试中心电子探针

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发表于 2017-6-11 09:36:30 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
仪器固定资产编号 101002  
所属机构 材料微区分析平台
分类号 03040703  
分类名称 电子探针
仪器中文名称 电子探针  
仪器英文名称 Electron Probe Micro-analyzer  
仪器别名 电子探针  
型号 JXA-8800R
技术指标 元素范围: 5 B ~ 92 U 波长范围: 0.087 nm ~ 9.3 nm分 辨 率: 6 nm((二次电子像) 样品尺寸:< φ8 mm x 5 mm 最大尺寸: < 25 mm x 10 mm 薄片样品: 50 x 25 x 1 mm  
应用成果   
功能及特点 电子探针可以对试样中微小区域(微米级)的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到层成分分布信息)、面扫描分析(得到成分面分布图像)。还能全自动进行批量(预置9999测试点)定量分析。  
可提供服务范围 由于电子探针技术具有操作迅速简便(相对复杂的化学分析方法而言)、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点,故在冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用,是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。  
对样品的要求 样品要求:定量分析的样品必须磨平抛光、清洗干净。若样品不能进行表面磨平抛光(将影响分析精度)处理应事先说明。为测试方便和节约机时,样品应先切成小薄片,不能切割制样,必须先与测试人员商量。应先标记好分析面上的测试点,无标记测试位置时,测试时只选有代表性、较平整位置测试。液体样必须先浓缩干燥。分析的样品必须是在高能电子轰击下物理和化学性能稳定的固体、不分解、不爆炸、不挥发、无放射性、无磁性。送样时最好注明样品可能包含什么元素。样品必须喷涂一层碳膜。  
主要附件 INCA能谱  
厂家 日本电子株式会社  
厂商资质 国际知名电镜仪器厂商  
厂商国家或地区 116 -- 日本   
产地国家或地区 116 -- 日本   
购置年代 2001年   生产年代 2001年   
安放地点 测试大楼北楼123a室  
仪器负责人 赵文霞  
通信地址 中山大学测试中心物相室  
邮政编码 510275  
联系电话 020-84110195  传真 020-84114050
电子邮件 tcwx@mail.sysu.edu.cn  
启用时间 2003/7/12  


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