上海大学材料学院半导体器件性能表征系统 (Keithley 4200-SCS/F型)

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仪器价格  37,000.00美圆        
仪器国别/制造单位 美国
购置年月  2004年6月
放置地点 上海大学延长校区冶金楼213室
联系人 王林军
联系电话  021-56333514

仪器简介：
Keithley 4200-SCS/F型半导体器件性能表征系统是一个可以提供精密电流源、电压源和测试功能的测试系统，为半导体器件和测试结构的直流参数测试、实时绘图与分析提供了一套完整的方案，具有高精度和亚fA 级的分辨率，可广泛应用于各类新材料、薄膜材料、异质结构等光电子材料及器件的电学性质和物理特性的研究。
仪器主要技术参数：
1．电压测量范围：1μV-200V，电压测量最小分辨率为1μV；
2．电流测量范围：100fA-100mA，电流测量最小量程为100nA；在最小量程上的电流测量最小分辨率为100fA，精度30pA；
3.测量单元数：
收费标准：
50元/样