纳米尺度近场电离质谱分析与成像的新方法

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发布时间: 2017-12-26 09:16

杭纬教授课题组与李剑锋教授课题组合作在纳米尺度近场电离质谱分析与成像新方法的研究工作，于12月8日发表在Science子刊《科学进展》，标题为 “Tip-enhanced ablation and ionization mass spectrometry for nanos ...

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