中山大学分析测试中心透射式电子显微镜

35k

仪器固定资产编号 101004  
所属机构 材料微区分析平台
分类号 03040701  
分类名称 透射式电子显微镜
仪器中文名称 200kV透射电镜  
仪器英文名称 TransmissionElectronMicroscope  
仪器别名 2010  型号 JEM-2010HR
技术指标 点分辨率 ： 0.23 nm  晶格分辨率 ： 0.14 nm  最高电压 ：200 kV  放大倍数： x 2,000 - x 1,500,000  
应用成果   
功能及特点 该型号电子显微镜，属中高压、高分辨率透射电子显微镜，最高加速电压为 200 kV 。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。透射电镜分辨率极高，放大倍数大，能反映样品的内部结构。  
可提供服务范围 网上预约：周一全天及周二上午
委托测试：周三、周四、周五
  
对样品的要求 由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄和超薄切片法。一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程，须由用户自己完成。超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、 切片等复杂工序，周期较长。由于该仪器是高分辨型电镜，为确保仪器性能和发挥其高分辨象观察特点，目前主要接受材料领域的样品。请务必提前24小时将样品分散至铜网。制备好的铜网 必须在60度烘箱干燥12小时以上。  
主要附件 双轴倾斜样品台，EDS能谱仪  


厂家 日本电子株式会社  
厂商资质   
厂商国家或地区 116 -- 日本   
产地国家或地区 116 -- 日本   
购置年代 2001年   
生产年代 2001年   
安放地点 测试大楼北楼130a室  
仪器负责人 黄烘  
通信地址 中山大学测试中心物相室  
邮政编码 510275  
联系电话 020-84110195  传真 020-84114050
电子邮件 tcwx@mail.sysu.edu.cn  
启用时间 2002/4/1