赛默飞世尔高分辨率电感耦合等离子体质谱仪 (HR-ICP-MS)

准确、可靠地在痕量级别执行多元素定量分析,甚至无需制备样品。Thermo Scientific™ ELEMENT 2™ 和 ELEMENT XR™ 高分辨率(扇形磁场)ICP-MS 系统能够测定 mg/L 至亚 pg/L 浓度范围,尤其适合半导体、地质学及材料科学实验室使用。

ELEMENT 2 HR-ICP-MS

该款高性能的双聚焦扇形场 ELEMENT 2 ICP-MS 在易用性、稳定性和生产率方面进行了优化,可提供强大的技术来解决具体问题,且具备极佳的灵敏度和信噪比。

ELEMENT XR™ HR-ICP-MS

ELEMENT XR ICP-MS 将双模式 SEM 与法拉第检测器相结合,相较于 ELEMENT 2 ICP-MS 将线性动态范围增加了三个数量级。

赛默飞世尔高分辨率电感耦合等离子体质谱仪 (HR-ICP-MS)描述

在痕量元素定量分析方面,ICP-MS 拥有最为强大的技术水平。ICP-MS 最严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准,可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析,样品制备步骤极为简便。

多元素分析

多元素检测器可处理瞬变信号,包括 HPLC、GC 和激光消融。

元素周期表中的无干扰测量涵盖基质组分(mg∙L-1)和超痕量元素(低于 1 pg∙L-1)。

最高灵敏度 ICP-MS(低分辨率时)。

灵活性和可用性

高质量数分辨率可获取谱干扰同位素,生成清晰的元素谱

对无干扰或受干扰同位素进行高精度同位素比分析。

热等离子体和冷等离子体状态。

ELEMENT XR ICP-MS

宽线性动态检测范围对于 ICP-MS 来说至关重要,因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。

集成式法拉第检测器的特性:

采样时间低至 1 ms。

测量高强度峰后无需衰减时间

SEM 和法拉第之间自动切换,延迟时间为 <1 ms。

不同检测器模式之间的线性交叉范围较宽(>2 个数量级),允许准确进行自动交叉校正。

动态范围为 0.2 cps(SEM)到 >1 x 1012 cps(法拉第)。