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岛津公司电子探针显微分析仪EPMA-8050G

2019-11-13 21:35| 发布者: fangyangzhong| 查看: 65| 评论: 0

摘要: 岛津公司电子探针显微分析仪EPMA-8050G搭载最尖端场发射电子光学系统,将岛津EPMA分析性能发挥到极致,从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。无与伦比卓越的空间分辨率使用分析条件束流,引以为傲No.1的 ...

岛津公司电子探针显微分析仪EPMA-8050G搭载最尖端场发射电子光学系统,将岛津EPMA分析性能发挥到极致,从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。

无与伦比卓越的空间分辨率

使用分析条件束流,引以为傲No.1的二次电子图像分辨率。(加速电压10kV时,20nm@10nA//50nm@100nA/150nm@1μA)。与原来的电子枪(CeB6、钨灯丝)的结果相比,一目了然。

由于可用更大的束流得到与原来电子枪相同分辨率的图像,所以可进行超高灵敏度的X射线分析。 更加值得注意的是,束流为1μA时的SEM图像。能够得到1μA以上束流,而且可以压缩到如此细的只有EPMA-8050G。


大束流超高灵敏度分析

场发射类型的SEM、EPMA可实现其他仪器所不能达到的大束流(加速电压30kV时最大3μA)。在超微量元素的检测灵敏度上实现了质的飞跃,将元素面分析时超微量元素成分分布的可视化成为现实。而且,所有束流范围内不需要更换物镜光阑,完全不用担心合轴,实现了高度自动化分析。

面的3个图像为不同束流下,对不锈钢中约1%左右Si进行面分析的结果※。束流越大,偏差越小,越能更加清楚的确认包含Si的范围。

※ 分析条件:加速电压10kV,积分时间50msec。分析花费时间约1小时。


最多可同时搭载5通道高性能4英寸X射线谱仪

X射线取出角决定分析性能,52.5°更胜一筹

X射线谱仪罗兰圆直径是影响EPMA分析性能至关重要的因素之一。罗兰圆半径每增加1英寸,检出灵敏度下降30%以上。岛津EPMA可最多同时搭载5通道覆盖全部分光范围的4英寸谱仪。


全部分析操作简单易懂

全部操作仅需一个鼠标就可实现的先进可操作性、追求「易懂」的人性化用户界面、搭载导航模式等多个新功能,将「简单易懂操作」成为现实。无论是初学者还是专家级用户都可进行得心应手的操作分析。

● 从样品导入到生成分析报告,操作方便。 

● 即便是第一次使用也可轻松进行样品定位SEM观察。

● 无与伦比的可操控性,大大提高分析准备工作的效率。

● 视觉上追求「易懂」的人性化用户界面。

● 搭载导航模式,自动指引直至生成分析报告。


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