球差校正透射电镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高分辨率配合诸多分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。100 kV的电子束的波长为0.037埃,而普通TEM的点分辨率仅为0.8纳米。这主要是由TEM中磁透镜的像差造成的。球差即为球面像差,是透镜像差中的一种。其他的三种主要像差为:像散、彗形像差和色差。透镜系统,无论是光学透镜还是电磁透镜,都无法做到绝对完美。对于凸透镜,透镜边缘的会聚能力比透镜中心更强,从而导致所有的光线(电子)无法会聚到一个焦点从而影响成像能力。在光学镜组中,凸透镜和凹透镜的组合能有效减少球差,然而电磁透镜却只有凸透镜而没有凹透镜,因此球差成为影响TEM分辨率最主要和最难校正的因素。此外,色差是由于能量不均一的电子束经过磁透镜后无法聚焦在同一个焦点而造成的,它是仅次于球差的影响TEM分辨率的因素。
朱静,1938年10月出生于上海,籍贯浙江杭州。清华大学材料学院教授、清华大学校务委员会委员。1995年当选为中国科学院院士,2007年当选为发展中国家科学院院士。1962年毕业于复旦大学物理系。1962.9-1996.3 在钢铁研究总院工作,期间1980年8月由教育部、冶金部派往美国visiting scholar, 1980.10-1982.9 在美国Arizona State University亚利桑那州立大学固体研究中心任Faculty Research Associate, 1984.9-1985.4 在美国亚利桑那州立大学天文和物理系任Faculty Assoc. Professor。1996年至今任教于清华大学。现任北京电子显微镜中心主任、中国钢研科技集团公司双聘院士。兼任中国材料学会荣誉理事、中国电子显微镜学会常务理事,The editor of <Journal of Electron Microscopy>,The Editor Board Member of <Solid State Communication>, The consultor of IUCr (International Union of Crystallography) Commission on Electron diffraction 等职。