微米级粉末的TEM试样的制备? -

标题: 微米级粉末的TEM试样的制备? [打印本页]

作者: laohuaishu 时间: 2017-2-13 20:40
标题: 微米级粉末的TEM试样的制备?
问:球磨粉末之后得到微米级粉末，但粉末颗粒内部的晶粒值纳米级的，现在需要通过TEM确定晶粒的大小，那么微米级粉末的TEM试样如何制备？一般现在用FIB（Focus Ion Beam），但是这样的设备国内不多见，制样时间长，贵。除此之外，还见过树脂包埋的，那么求教各位用何种树脂？包埋的具体流程如何？包埋之后如何切片？
答：1.环氧树脂包埋，冷冻超薄切片，得到的薄片放到铜网上直接看，注意:由于微米颗粒硬度大，最好使用钻石刀切片。2.微米级粉末做离子减薄，然后用电镜观察。

作者: 上海纳瑞科技 时间: 2020-7-15 10:07
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