中山大学分析测试中心电子探针 -

标题: 中山大学分析测试中心电子探针 [打印本页]

作者: 35k 时间: 2017-6-11 09:36
标题: 中山大学分析测试中心电子探针
仪器固定资产编号 101002
所属机构材料微区分析平台
分类号 03040703
分类名称电子探针
仪器中文名称电子探针
仪器英文名称 Electron Probe Micro-analyzer
仪器别名电子探针
型号 JXA-8800R
技术指标元素范围： 5 B ~ 92 U 波长范围： 0.087 nm ~ 9.3 nm分辨率： 6 nm（(二次电子像）样品尺寸：< φ8 mm x 5 mm 最大尺寸： < 25 mm x 10 mm 薄片样品： 50 x 25 x 1 mm
应用成果
功能及特点电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）。还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。
可提供服务范围由于电子探针技术具有操作迅速简便（相对复杂的化学分析方法而言）、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，故在冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用，是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。
对样品的要求样品要求:定量分析的样品必须磨平抛光、清洗干净。若样品不能进行表面磨平抛光（将影响分析精度）处理应事先说明。为测试方便和节约机时，样品应先切成小薄片，不能切割制样，必须先与测试人员商量。应先标记好分析面上的测试点，无标记测试位置时，测试时只选有代表性、较平整位置测试。液体样必须先浓缩干燥。分析的样品必须是在高能电子轰击下物理和化学性能稳定的固体、不分解、不爆炸、不挥发、无放射性、无磁性。送样时最好注明样品可能包含什么元素。样品必须喷涂一层碳膜。
主要附件 INCA能谱
厂家日本电子株式会社
厂商资质国际知名电镜仪器厂商
厂商国家或地区 116 -- 日本
产地国家或地区 116 -- 日本
购置年代 2001年生产年代 2001年
安放地点测试大楼北楼123a室
仪器负责人赵文霞
通信地址中山大学测试中心物相室
邮政编码 510275
联系电话 020-84110195  传真 020-84114050
电子邮件 tcwx@mail.sysu.edu.cn
启用时间 2003/7/12

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